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Ky开元集团>产品展厅>半导体行业专用仪器>其它半导体行业仪器设备>其它半导体设备>ENI1220 日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪

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ENI1220 日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪

参考价 ? 190
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 西安易恩电气科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型号 ENI1220
  • 产地 陕西西安
  • 厂商性质 生产厂家
  • 更新时间 2018/7/21 9:44:45
  • 访问次数 489

联系我们时请说明是Ky开元集团上看到的信息,谢谢!


    西安易恩电气坐落于西安渭北工业装备区,是陕西省政府重点支持的*。公司专注于研发、生产和销售半导体封装、测试设备。现已成为国内电力电子行业的测试方案供应商。公司以自主研发生产的“轨道机车半导体测试系统”系列产品为主导,在此基础上相继推出全自动大功率IGBT参数测试系统分立器件综合测试仪,功率器件图示系统晶体管图示仪,MOS动静态测试测试仪,晶闸管测试仪,雪崩、浪涌、高温阻断、高温反偏、栅电荷测试系统等系列产品。广泛应用于科研院所、能源、电力电子、交通、船舶制造、高校等诸多领域。

    完善的基础设施和优秀的人才队伍一直是企业强化建设的重点。公司设有测试实验室,调试中心,产品研发中心,服务团队等多个技研服务部门,以满足不同客户对测试解决方案的多层次需求。公司研发人员占总人数的70%,硕士学历以上人员占75%,专业技术人员占比超过66%,成员大多来自航天、航空、半导体及微电子相关研究院所及电力电子行业内的*人士。公司通过了质量体系*及陕西省软件企业认定,承担国家*创新基金项目等。

   “专业专注,全心服务”是公司健康发展之基础。面向未来,易恩将充分发挥自身的技术创新和服务优势。

IGBT动静态测试系统,晶体管图示仪?,?IPM测试系统,功率循环?/?热阻

ENI1220 IPM 测试系统

日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪 

 

 

系统概述

 

基础配置

 

IPM,即智能功率模块,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作为功率开关元件,内部集成电流传感器及驱动电路的集成结构。

IPM模块需要测试的特性参数很多,其中关键的测试参数为开关特性(时间特性)的测量。该系统在解决IPM的控制信号以及高速数据采集处理两个关键技术的条件下,是一套基于DSP及FPGA的高速实时测试系统。

 

电压

电流

 

 

标配

选配

标配

选配

 

 

1200V

1000V

200A

200A

 

 

2200V

400A

 

 

3300V

600A

 

 

4500V

1000A

 

 

6000V

2000A

 

配置/短路测试

 

电压

电流

短路测试

 

标配

选配

标配

选配

项目

范围

误差

分辨率

 

1200V

2200V

200A

400A

VPN

100V~1200V

±3%

10V

 

3300V

600A

测试电流

10A~75A

±3%

1A

 

4500V

1000A

短路电流

100A~500A

±3%

1A

 

6000V

2000A

短路时间

1 uS~10uS

可调

可调

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

测试功能

 

测试范围

测试参数

 

IPM

BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

 

IGBT

ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

 

DIODE

VF-Temp, Temp, VF revision

 

 

 

 

参数 / 精度

 

静态参数

 

动态参数

 

上桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-H)

集电极电压Vce:

100~1200V,

误差±3%,分辨率10V

 

上桥IGBT/FRD耐压测试(Bvce-H)

 

上桥驱动IC低端静态电流测试(IDH)

集电极电流Ice:

10~75A,

误差±3%,分辨率1A

 

上桥驱动IC静态工作电流测试

(Iqbs-U,V,W)

 

VD=VBS=15V,           

误差±3%,分辨率0.1V

 

上桥欠压保护监测电平 (UVbsd-U V W)

VIN=0~5V             

误差±3%,分辨率0.1V   

上桥欠压保护复位电平(UVbsr-U V W)

ton-L : 10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

上桥驱动IC导通阈值电压测试

(Vth(on)-UH VH WH)

tc(on)-L :5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS    

 

toff-L: 50~500nS,   

误差±3%,分辨率1nS

 

上桥驱动IC关断阈值电压测试

(Vth(off)-UH VH WH)

tc(off)-L: 5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS     

 

Trr-L :10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

上桥IGBT饱和电压测试(Vce(sat)-UH VH WH)

Eon-L :0.1~10mJ,   

误差±3%,分辨率0.1mJ  

 

上桥FRD正向压降测试(VF-(UH VH WH)

Eoff-L: 0.1~10mJ  

误差±3%,分辨率0.1mJ

 

下桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-L)

集电极电压Vce:

100~1200V,

误差±3%,分辨率10V

 

下桥驱动IC静态工作电流测试(IDL)

 

故障输出电压测试(Vfoh Vfol)

集电极电流Ice:

10~75A,

误差±3%,分辨率1A

 

过流保护阈值电压测试(Vcin(ref))

 

下桥欠压保护监测电平(UVdd)

VD=VBS=15V,           

误差±3%,分辨率0.1V

 

下桥欠压保护复位电平(UVdr)

VIN=0~5V             

误差±3%,分辨率0.1V   

 

下桥驱动IC导通阈值电压

(Vth(on)-UL VL WL)

ton-L : 10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

tc(on)-L :5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS    

 

下桥驱动IC关断阈值电压

(Vth(off)-UL VL WL)

toff-L: 50~500nS,   

误差±3%,分辨率1nS

 

tc(off)-L: 5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS     

 

下桥IGBT饱和电压测试(Vce(sat)-UL VL WL)

Trr-L :10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

下桥FRD正向压降测试(VF-(UL VL WL)

Eon-L :0.1~10mJ,   

误差±3%,分辨率0.1mJ  

 

 

 

Eoff-L: 0.1~10mJ  

误差±3%,分辨率0.1mJ



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