HEKA微区 扫描离子电导显微镜 SICM

扫描离子电导显微镜 SICM属于扫描探针显微镜，它是一种具有纳米级分辨率的显微技术。区别于其他扫描探针显微技术， SICM能够在样品表面非接触的条件下获取样品表面形貌特性信息，并且SICM对样品本身没有要求,也不需做任何预处理。

扫描离子电导显微镜 SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探针是一根中空的超微玻璃管，针尖为锥形，针尖内径约几十到几百纳米；
2、在探针内外均灌有电解质溶液，并各放置一根电极,在电极的两端通上电压就会在溶液中产生离子电流；
3、当针尖与样品距离较远时，电流值的大小保持恒定，而当探针与样品的距离减小到约为探针内径时，狭小的针尖/样品空间就会限制离子通过，离子电流急速减小；
4、根据探针/样品间距离与离子电流的关系，一个设定的电流值就代表了探针与样品间一个固定的距离，让探针在样品表面以一定的路线移动扫描，控制器控制电流保持恒定以保证针尖与样品始终保持同样的距离，扫描完成后记录下探针移动的轨迹即可代表样品的表面形貌。