反射膜厚仪 FT100

反射膜厚仪 FT100描述：

紧凑型反射式膜厚仪测量系统，初学者也能轻松上手解析，单点对焦并测量耗时1秒内完成，支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析。用于表征介质保护膜、半导体薄膜、玻璃镀膜等各种样式薄膜膜厚的光学计量专业化工具。

反射膜厚仪 FT100功能：

膜层厚度无损测量

避免传统接触式测量（如台阶仪）可能造成的划伤或形变。

支持单层、多层膜测量

通过干涉条纹间距或反射率极值点直接计算厚度。

便携式设计

模块化探头，紧凑机身，产线快速抽检。

支持平面曲面测量

通过可变入射角设计或曲面补偿算法（如修正光程差），测量圆柱透镜、球面镜等。

可测多种状态薄膜

如SiO?、光刻胶、PET薄膜，可通过多峰干涉解析各层厚度。

支持参数调整测量

用户可保存不同材料的测量模板，提升批量检测效率。

产品特点：

1.高精度、高稳定性

2.光学干涉方式，无损测量

3.多类解析算法，可精准和估算测量，满足不同测量需要

4.高速测量，绝大多数样品可1s内完成测量

5.软件简洁，测量一键操作，简单易用

6.机型结构小巧，轻质化设计，便于携带

检测案例：