Morphologi 4 精选 Malvern马尔文 Morphologi 4-ID粒度分析仪
参考价 | ? 25000 |
订货量 | ≥1件 |
- 公司名称 山金工业(深圳)有限公司
- 品牌 MALHATY/丸八
- 型号 Morphologi 4 精选
- 产地 日本大阪
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/7/5 12:01:36
- 访问次数 32
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应用领域 | 食品/农产品,制药/生物制药,汽车及零部件,电气,综合 | 型号 | Epsilon |
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出力 | 10 W(最大50 kv. 1.0 mA) | 检测器 | 高灵敏度硅漂移检测器SDD10 |
范围 | Na~Am | 过滤器 | 6種類 (Cu 300 um,Cu 500 um,Al 50 μm, Al 200 um, Ti 7 |
外部寸法(WXDxH)、重量 | 395x375x384毫米()。24公斤 | 液氮、真空系统 | 有 |
电源 | 100 V-240 V.250 VA. 50/60 Hz | 界面 | 局域网、VGA、USB、HDMI接口 |
Malvern马尔文 Morphologi 4-ID粒度分析仪
Malvern马尔文 Morphologi 4-ID粒度分析仪
Aeris紧凑型X射线衍射仪
台式X射线衍射仪(XRD)
我们的台式 X 射线衍射 (XRD) 仪器 Aeris 可提供此前只有大型落地式仪器才具备的数据质量和速度。
您面临这些挑战吗?
XRD设备价格昂贵,难以决定购买
设备较大,没有足够的空间安装。
测量和操作复杂,没有专业知识很难使用
测量和分析需要时间,导致业务运营延迟
依赖外包分析和等待结果的时间
对小型设备的准确性和可靠性的担忧
Aeris 内置触摸屏和直观的软件,方便任何人使用。数据输出可以使用与落地式 XRD 仪器相同的 High Score 分析软件进行详细分析,用于化合物识别、定量分析、结晶度分析、晶粒尺寸分析、晶相的 Rietveld 定量分析以及晶体结构分析。Aeris
是 Malvern Panalytical 的 XRD 仪器,为工业台式应用提供最佳的数据采集和全自动化功能。Aeris 是一款经济实惠的 XRD 仪器,提供四个版本(水泥版、矿物版、金属版和研究版),以满足您特定的应用需求。
OmniTrust兼容:适用于制药监管环境的解决方案
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版本
特征
配件
支持
客户评价
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版本
Aeris 研究版
我们提供准确的通用材料分析解决方案,满足您的所有需求。
Aeris 研究版
Aeris水泥版
直接研究水泥和中间体的矿物组成。
Aeris水泥版
Aeris 矿物版
多功能矿石分析仪,可供采矿业的任何人使用。
Aeris 矿物版
Aeris Metals 版
可靠、快速地分析烧结体、还原铁和残余奥氏体。
Aeris Metals 版
Aeris 制药应用
药物开发和制造的固体形态分析
Aeris 制药应用
特征
继承 型号光学系统的台式型号
通常,台式X射线衍射仪使用的测角仪体积小巧轻便。Aeris配备了与高精度落地式X射线衍射仪(XRD)类似的测角仪,以及X射线管和高速探测器。
高灵敏度,可检测出 1% 或更少的晶相和多态性
符合 21 CFR 第 11 部分的数据完整性软件
水平采样系统消除了粉末样品掉落的风险
无需冷却水设备,大大减少安装和维护成本
相关博客文章:XRD 在实现绿色水泥中的重要作用
检测灵敏度和分辨率
与传统的台式粉末X射线衍射(XRD)相比,低角度下的背景有所降低,因此更容易检测到微小的峰值。
此外,即使是台式X射线衍射(XRD),它也实现了小于0.04°半宽的轮廓分辨率。 它可有效进行精确的Rietveld分析。
精度和再现性
通过安装与 X射线衍射仪器(XRD)相当的高精度测角仪,可以获得角度线性在±0.02°以内的高可靠性数据,实现良好的测量重复性和再现性。
安全性
X射线照射单元、测量单元和检测系统都是密封的,确保安全性。 测量时,将样品放置在仪器外部的样品台上,并自动传送到测量单元并开始测量操作。
提供丰富晶体信息的日语XRD研究软件高分
灵活分析
利用 算法的搜索匹配功能实现高精度识别
无需改变原始格式即可分析数据
内部开发的 Rietveld 细化算法经过数十年的改进
可灵活应用高阶函数和多种模型,实现高精度拟合。
聚类分析功能自动对测量数据进行分类
PLS(偏线性回归)分析可以对天然产品样本等复杂数据进行统计分析
实用功能
X 射线衍射所需的高级衍射功能 集成到一个软件中
一款软件,涵盖从研究人员的高级衍射到 QA/QC 应用的所有内容
保存的分析条件可自动处理多个数据,并可一次导出任何参数。
复制/粘贴和撤消/重做功能允许您调整配件
位图扫描转换器可以将纸质图表转换为数字数据,让您可以读取旧数据或其他公司的数据进行比较分析。
无需特殊操作环境
综合的
从数据分析到输出和用户数据库创建
与其他 Malvern Panalytical X 射线衍射 (XRD) 产品(Empyrean、X'Pert 系列)相同
High Score主要用于身份识别,可扩展为High Score Plus(Rietveld分析功能)
对于那些刚接触 X 射线分析的人来说
如何用XRD识别化合物并分析样品中的晶体:首先,将单色(单波长)X射线以不同角度照射到粉末上。如果样品含有晶体,当角度满足“布拉格条件”时,会出现由晶面间距引起的峰。该峰出现的“角度位置”表示该晶体 的“面间距”。换句话说,可以通过峰的位置和强度来估计所含晶体的种类和数量,从而进行定性(鉴定)甚至定量分析。此外
,还可以分析晶粒尺寸、晶体畸变和晶格常数等参数。
如果样品不含晶体成分,即非晶态,则不会出
我司代理及优势品牌一览明细:
代理品牌:CCS晰写速SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林时计、NPM日脉
NS日本科学、DRY-CABI东利繁、TOKISANGYO东机
SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt写真化学、NIPPON GEAR日本齿轮
NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 东丽
优势品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、TORAY东丽、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC
S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野、ANRITSU安立计器
IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣、HEIDON新东科学KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH爱光、SEM坂本电机
SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、
RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等
优势产品:日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯
变色灯箱、色差仪、卤素光源装置、氧气浓度计、焊接机、应力表面检查仪、LED光源机、电子天平、粘度计、膜厚计、恒流泵、采样泵、PH计、水分计、地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪、接近开关、拉拔机、异音检测仪、应变测试仪、拉针仪、水平测试仪等
气动元件:SMC FESTO CKD,MAC,安沃驰AVENTICS,雄克SCHUNK,小金井KOGANEI,诺冠NORGREN,宝德BURKERT,力士乐REXROTH,滨霸BIMBA,康茂胜CAMOZZI,PIAB
传感开关:邦纳BANNER,巴鲁夫BALLUFF,皮尔兹PILZ,易福门IFM,西克SICK,图尔克TURCK,良信,安士能EUCHNER,倍加福P+F,穆尔MURR,倍福BECKHOFF,德森克DI-SORIC,施迈赛SCHMERSAL,基恩士KEYENCE,欧姆龙OMRON,
电气控制:西门子SIEMENS,施耐德 SCHNEIDER,伊顿-穆勒EATON,罗克韦尔A-B,ABB,三菱MITSUBISHI,丹佛斯DANFOSS,伦茨LEUZE,SEW
端子连接器:菲尼克斯PHOENIX,魏德米勒WEIDMULLER,浩亭HARTING,高松电子