Q-POD Element终端精制器 返回列表页

详细资料

Q-POD Element终端精制器详细介绍

测量技术和检测技术的新近发展极大地提高了现代分析仪器的灵敏度。使用诸如ICP-MS技术，可以在ppt或亚ppt水平检测痕量元素。
这些低检测限水平技术有多种新应用，例如元素指纹识别，可用于法医学、食品饮料工业和天体地质学等众多不同的领域。
低检测限水平意味着须多加注意实验设备、操作人员、实验室环境以及所用的样品容器，因为这些因素都可能影响实验结果。
分析过程中使用的超纯水也是一样。由于样品制备需要溶解和稀释过程，因此使用这些灵敏技术分析的样品中90%以上是高纯度的纯水。高纯度的纯水还用于清洗装样品的容器，清洗塑料器具，制备空白和标准溶液。
进行痕量分析的实验室必须有可靠的超纯水来源，且该超纯水必须始终保持低的元素浓度。
专门设计的Q-POD Element ，与Milli-Q Integral或Milli-Q Advantage超纯水纯化系统联合使用，可以达到此目的。Q-POD Element终端精制器的设计是由精通IC、ICP-MS以及GF-AAS等痕量分析方法的科学家开发的。



Q-POD Element终端精制器技术参数：

电阻率 18.2MΩ-cm @ 25℃
元素水平 ppt或亚ppt级（参见元素列表）
颗粒 < 1/l（=""> 0.5 μm）
硅 < 1="" ppb="">
TOC < 5="">
细菌 < 0.01="" cfu="">