喜讯

   2019年8月，*套奥地GETec公司扫描电镜原位AFM探测系统（AFSEM）在中国科学院上海硅酸盐研究所曾毅教授课题组顺交付使用。

奥地GETec公司扫描电镜原位AFM探测系统现场安装培训

纳米 新探索   

    奥地GETec公司发布的AFSEM是款紧凑型，适用于真空环境的AFM产品，能够轻松地与SEM结合为体，扩展SEM样品成像和分析能力，实现了AFM和SEM的功能性互补。AFSEM技术与SEM技术的结合，是人们对纳米新探索的重要工具之。

GETec AFSEM 系统安装示意图及实物图

    中国科学研究院硅酸盐研究所曾老师课题组主要从事材料显微结构表征技术研究，在扫描电镜使用操作方面具有丰富的经验。本次交付的AFSEM系统结合了课题组已有的美国FEI电镜Versa™ 3D 双束扫描电镜，该强有力地结合，可将SEM已有的样品表面分析成像功能扩展到AFM探测域，同时也将帮助曾老师课题组在材料显微结构方面的研究，我们也祝愿曾老师在未来的科研工作中取得累累成果。

    同时，GETec公司也非常关注此次安装，同期9月，奥地政府经济商会访问团在上海大学参与政府组织的学术研讨活动，会后邀请其国内外家人士参观曾老师课题组，并顺举办有关GETec 技术应用研讨会，将奥地公司及研究机构与上海大学及研究机构紧密联系在起。研讨会上，奥地GETec公司介绍了AFSEM的新发展并讨论其应用。

奥地GETec公司国内举办研讨会及现场仪器操作演示 

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