脉冲激光外延制备镀膜系统 参考价：面议
脉冲激光外延制备镀膜系统脉冲激光外延制备系统凭借着优异的性能, PVD公司生产的脉冲激光沉积分子束外延系统在国内外拥有较多用户，为众多老师开启薄膜外延制备的新篇...
脉冲激光沉积镀膜设备 参考价：面议
脉冲激光沉积镀膜设备激光在真空腔内照射到成膜靶上，靶被照射后吸收高密度能量而形成的plume状等离子体状态，然后被堆积到设在对面的基板上而成膜。PLD方法可以获...
狭缝挤出式涂布镀膜机 参考价：面议
狭缝挤出式涂布镀膜机粘度范围：1-20000cps，应用衬底：玻璃， PET聚酯， 纸张，幅宽：90mm, 120mm, 300mm。
低温等离子体源 参考价：面议
低温等离子体源通过外部开关信号发射，直接放电，低输入电压、高输出电压，基于压电变压器直接放电，同时在元件的输出端直接产生冷等离子，等离子通过电离空气或气体来形成...
快速动力学停流装置-分子生物学 参考价：面议
快速动力学停流装置-分子生物学配合进行快速动力学瞬间实时记录，或离线分析，为广大的快速动力学研究学者提供了强有力的工具。在消耗较少的样本和较少的时间的同时，为您...
表面光电压谱--半导体表征 参考价：面议
表面光电压谱--半导体表征表面光电压谱进行专业研究时，SPV010或者SPV020表面光电压谱系统作为开尔文探针系统的升级配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英国KP开尔文探针扫描-半导体表征 参考价：面议
英国KP开尔文探针扫描-半导体表征英国KP开尔文探针扫描是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数（Work Function）或半导体、绝缘表面的...
球磨测厚仪-测试设备 参考价：面议
球磨测厚仪-测试设备控制单元自带可编程的微处理器:速度，时间，球型，X，Y直径，自带LED光源，目镜小刻度为0.02mm，自动厚度校准，工作时间范围：1-30m...
涂层附着力检测仪-测试设备 参考价：面议
涂层附着力检测仪-测试设备1.快速简易：压痕并观察压痕效果2.高性价比：宝石探针消耗低（划痕仪的10倍使用寿命）
摩擦学测试设备 参考价：面议
摩擦学测试设备目的是满足摩擦学的需要。为了增加机械部件的性能和可靠性，公司和大学研究越来越多的涂层和基底材料的摩擦参数和磨耗阻力。针对客户的需求，我们开发了多种...
轮廓仪-测试设备 参考价：面议
轮廓仪-测试设备为了选择佳涂层或基底材料，客户有必要不仅仅检测摩擦系数，也需要检测磨损速率。磨损速率测量可以提供可靠的结果，这可以允许客户来决定手否样品能够达到...
界面力学分析仪-材料表征 参考价：面议
界面力学分析仪-材料表征界面力学分析仪可以用来直接测量表面（诸如：无机物，金属，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）间静态力和动态力，并在分子级领域内研究界面...
飞行时间二次离子质谱-材料表征 参考价：面议
飞行时间二次离子质谱-材料表征飞行时间二次离子质谱是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-...
全自动贴片机-材料设备 参考价：面议
全自动贴片机-材料设备标准光学放大是持续可调的。这通过可调放大倍率达到高精度的放置器件。该款是一款坚固并且可靠的机械设计，操作简易，兼容性高的产品。
划片机-材料设备 参考价：面议
划片机-材料设备沿着中心线升高以便分离。薄膜层帮助元件阻拦污染或重压。全部参数都由控制键盘设定。这是一款稳定，抗振动，和易操作的设备。
大气环境光电子发射光谱-材料表征 参考价：面议
大气环境光电子发射光谱-材料表征1、大气环境下使用2、功能：光电子发射光谱+开尔文探针3、测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽...
薄膜电阻及厚度测试设备 参考价：面议
薄膜电阻及厚度测试设备可按照需求配置单个或多个针对不同样品的高敏感探头进行测量，并通过显示模块输出。检测终输出结果可显示为薄膜电阻（Ohms/sq），薄膜电导（...
俄歇电子能谱及电子衍射分析系统-材料表征 参考价：面议
俄歇电子能谱及电子衍射分析系统-材料表征俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统电子枪：型号 ：带可调焦距和束斑直径的双静电透镜束流电压：0-3KV束流电流：大50u...
表面光电压谱系统-材料表征 参考价：面议
表面光电压谱系统-材料表征表面光电压谱系统150瓦直流可控光强的石英卤素灯可以达到开路电位来评估卷对卷硅太阳能电池的质量，全数字化控制所有参数，包括光照强度和波...
KP Technology扫描开尔文探针-材料表征 参考价：面议
KP Technology扫描开尔文探针-材料表征非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子...
超高真空开尔文探针-材料表征 参考价：面议
超高真空开尔文探针-材料表征开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，
气氛可控开尔文探针-材料表征 参考价：面议
气氛可控开尔文探针-材料表征气氛可控开尔文探针RHC020 气氛控制扫描开尔文探针是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至10...
深能级瞬态谱仪-半导体表征 参考价：面议
深能级瞬态谱仪-半导体表征半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段。根据半导体P-N 结、金－半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C～t）...
单点开尔文探针-材料表征 参考价：面议
单点开尔文探针-材料表征开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。
8