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当前位置：北京北信科远仪器有限责任公司>>检测分析仪器>>食品检测专用仪>> BX-T755降落值测定仪
仪器特点：
·降落值测定仪是测定谷物中活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适
用于谷物、尤其是小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检
测的仪器。
·降落值仪的方法原理:谷物粉(如小麦粉)的悬浮液在沸水浴中迅速煳化，并因其中a一
酶活性的不同而使煳化物的淀粉不同程度的被液化，液化程度不同，搅拌器在煳化物
中下降速度不同，降落值的高低也就表明了相应的a一活性的差异。降落值愈低表
明a的活性愈高。降落值是以搅拌棒在煳化液自由下降一段特定高度所需的秒数
来表示的。可以选配带打印功能。
技术参数：
仪器尺寸:420x340x350mm
仪器重量:25kg
搅拌棒质量:25±0.05g
外径:23.8±0.25mm
内壁高:220±0.3mm
水浴桶加热管:600W
工作电压:AC 220V 50Hz
粘度管:内径21±0.02mm
重复性:两次测定结果之差不得超过平均值的10%
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