M2仪 返回列表页

M2仪分为普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高达4 KW功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。   

       由于Beam Analyzer应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，以色列DUMA公司为用户提供了特殊型号选择，M2Beam-U3-VIS-NIR。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对220-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。

       以色列DUMA公司提供的M2因子测量仪由七刀口式Beam Analyzer和移动平台组成，通过采集多个测量面实现对M?因子的测量，整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求，主要包括M2因子，发散角以及束腰参数等数据的检测。

M2仪产品规格参数：

-输入光束

-扫描装配附件

-整机

M2仪产品特点：

-可检测连续激光以及脉冲激光

-特殊的断层图像重建技术

-最大25mm光束尺寸测量

-USB3.0接口快速数据传输

-激光质量监控

-可配置采样器，实现高功率激光检测

-即插即用，使用便捷

M2因子测量仪订购信息：

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams