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笃挚仪器（上海）有限公司
主营产品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度仪，德国马尔粗糙度仪，Mahr，三丰粗糙度仪代理，霍梅尔Hommel |
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更新时间：2017-05-02 10:26:04浏览次数：1135
联系我们时请说明是Ky开元集团上看到的信息，谢谢!
AMETEK原产直销-Surtronic S116手持粗糙度仪
1、简介
拥有4.3寸的触摸全屏，电池持久力可保证 2000次测量。屏幕图形功能和USB链接功能保证了全新的Surtronic S-100系列各项仪器功能的zui大化实现。笃挚仪器有限公司总代理供应的英国泰勒霍普森Surtronic系列便携式粗糙度仪专为车间环境、生产和检测间的应用所设计，Surtronic S-116能够对所有的粗糙度测量需求提供多样化的解决办法。并且对特殊要求能够量体裁衣的制定不同的应用配件。
2、技术参数
??数据显示 ：
显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）
可以打印测试结果和图形
使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果
??数据存储：
仪器可以存储100个测试数据和一个图形
仪器支持U盘zui大4G，zui多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。
使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。
??电源：
充电器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充电时间：4小时
电池寿命：充电一次可以做2000次测试
待机时间：5000小时
由待机状态到开机测试状态，zui长时间不超过1秒I
自动关机：30秒– 6小时可以自行设置
3、应用领域
坚固、快速和可靠的手持式粗糙度测量仪Surtronic S-116典型应用领域包括但不限于：
过程控制：研磨、车削、铣削、绗磨、抛光、压挤
汽车：齿轮、连杆、 缸孔、缸体、曲轴
重工业：造船业、输油管道、钢板
航空航天：涡轮叶片、涡轮轴、机翼复合材料
其他：印刷辊、地板、粘合
4、技术指标：
测量范围：200 um 100 um 10 um
分辨率： 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪
传感器原：电感
测量力：150-300mg
测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
测试方式：滑动扫描
校准：
自动软件校准 标准：ISO4287
5、测试参数：
三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器：2CR、Gaussian
评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
zui大行程：17.5mm
测试速度：
测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
测试参数：
执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
测试单位：um/uin
AMETEK原产直销-Surtronic S116手持粗糙度仪
6、S116标准配置:
显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;USB接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱
7、可选附件
测试平台：
00级大理石平板：400X250X70mm
有效高度：280mm。
可调Y轴V型铁
可调范围：±5mm
V型铁长度100mm
8、性能改进
SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改进：
1、电池由碱性9V改为锂电充电电池；
2、显示屏为触摸屏；
3、可以显示测试图形；
4、SURTRONIC 25只能测试10个参数，S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数（见技术参数）；
5、原来SURTRONIC 25使用电位器校准测试结果，现在改为自动软件校准。方便使用；
6、显示屏显示的结果（数据和图形）可以旋转，可以方便的从四个方向观察测试结果；
7、仪器底部为V形，测试轴类部件方便可靠；
8、测试数据存储增加了存储图形功能；
9、可以使用U盘直接存储，一个4G容量U盘可存储3.9万个图形，数据可以存储70批次，每批次为10万个测试数据。
