X-RAY XUV菲希尔x荧光射线测厚仪 返回列表页

 X-RAY XUV菲希尔x荧光射线测厚仪

FISCHER 的台式涂镀层测厚仪使用 X 射线荧光法或多探头的接触式测量技术，能提供性能和灵活性。由于运用了各种测量技术，因此能够为任何测量任务提供合适的解决方案。台式仪器可以通过软件和硬件接口轻松集成到生产和质量管理系统中。

XAN500
一台仪器，三种作业模式：XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备，它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。
MMS PC2
采用不同测量技术的模块化系统：非常适用于与涂镀层厚度测量和材料测试相关的各种需求。
CMS2
台式测厚仪，几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层（包括多镀层）的厚度。
GOLDSCOPE
GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的
XAN
用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。
XUL / XULM
基于 X 射线荧光法的测试仪器，坚固耐用，快速、高效地测量镀层厚度，特别适用于电镀行业。
XDL / XDLM / XDAL
功能强大：XDL 系列仪器具有全面的配置方案，可手动或自动测试，是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。
XDV-SDD
FISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足最高要求的镀层厚度测量和材料分析而设计
XDV-µ
FISCHER的XDV-µ型系列仪器，可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品
XUV
X 射线荧光仪器，配有用于分析轻元素的真空测量室。
XDL / XDLM / XDAL
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

 X-RAY XUV菲希尔x荧光射线测厚仪

从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度、精度和可靠性的要求。目前，有超过10000台X射线仪器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强大，可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。