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X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
坚固，方便，小巧 - DUALSCOPE MP0/DUALSCOPE MP0R菲希尔涂层测厚仪系列。 使用磁感应或涡流方法进行移动，准确和非破坏性涂层厚度测量。FISCHER的专业测量技术，设计紧凑。 具有两个矩形放置显示器和明亮的照明，具有出色的可读性。 非常适合快速可靠和准确的测量 - 也适用于难以接近的区域或不佳照明等困难条件下。 提供各种版本：
DUALSCOPE MP0：用于测量黑色金属或有色金属材料上的涂层。
DUALSCOPE MP0R：带有额外的无线和USB接口，用于向PC传输数据
DUALSCOPE MP0R-FP：带固定电缆探头，无线电和USB接口
MPOR-FP薄膜测厚仪虽然体积小，但具有电磁和涡流两种自动切换功能。它会自动确定底层金属是磁性的还是非磁性的，并自动更改测量方法以进行测量。通过新的导航和图形显示，直观操作非常容易。测量几乎不受工件形状和磁导率的影响。袖珍型涂层测厚仪– MPOR-FP是与PC结合在一起的袖珍仪器，可以对所有金属进行合适且快速的涂层厚度测量。 涂层测厚仪-MP0R-FP具有专有的电导率补偿功能，可用于计算非磁性基材。 涂层测厚仪-MP0R-FP由于其耐磨的结构而便于携带，并且还确保在不利条件下工作时也不会失效。
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