泰勒霍普森粗糙度轮廓仪 返回列表页

泰勒霍普森粗糙度轮廓仪

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO测量原理测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶显示器上读出，也可在打印机上输出，还可以与PC机进行通讯。

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO幅值参数（测量表面偏差的垂直特征）：Ra （算术平均值偏差）Rsk （偏斜度）Rz （平均峰谷高度）Rt （轮廓总高度）Rp （大峰高度）Rz1max （大峰谷高度）间距参数（测量表面偏差的水平特征）：RPc （峰数量）RSm （轮廓元素的平均宽度）混合参数（间距和幅值参数的组合）：Rmr （材料支撑比）Rda - R Delta a（算术平均斜率）上述参数涵盖了大部分用于检查润滑、进给速率、压力、摩擦和磨损性能的*常用要求。可另外使用Talyprofile 软件来分析其他参数