COULOSCOPE CMS2 STEP菲希尔，在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了极限，这就是COULOSCOPE®CMS2发挥作用的...

库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP，PCB涂层厚度测量设计用于测量任何金属涂层的厚度，如任何基材上的多层。 该器件通过阳极溶解（DIN EN ...

COULOSCOPE CMS2菲希尔测厚仪，库仑法是一种简单易行的电化学分析方法，可用于确定金属涂层的厚度。 尽管该方法主要用于检查电镀涂层的质量，但它也适用于...

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电镀镍测厚仪菲希尔，设备为不同的镀层结构配备了近100个预留的应用程式（例如，铁上镀锌，黄铜上镀镍）, 以及各种电解速度（例如1, 2, 5, and 10 μ...

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库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2， 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测量时，它提供了一个比X射线更经济的替代方法。

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菲希尔代理库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2，还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测...

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菲希尔库伦法测厚仪Fischer。除了与COULOSCOPE CMS2相对应的涂层厚度测量外，COULOSCOPE CMS2 STEP还提供符合ASTM B76...

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菲希尔库伦法测厚仪Fischer代理，针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用

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菲希尔库伦法测厚仪Fischer，COULOSCOPE CMS2仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。