Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪 返回列表页

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO包括主要参数

泰勒霍普森粗糙度仪应用领域：

过程控制–研磨、车削、铣削、珩磨、抛光、挤压

重工业–造船、管道、钢板

航空航天–涡轮叶片、涡轮轴、机翼复合材料

其它–印刷辊、地板、压焊、玻璃

Surtronic DUO仪器性能

传感器分辨率：0.01 μm (0.4 μin)

测量量程(Ra）：大40 μm (1600 μin)

量程(Rz、Rv、Rp、Rt)：大199 μm (7800 μin)

重复性：值的2 % +噪声

精度：读数的5 % + 0.1 μm (4 μin)

噪声：0.02 μm (0.8 μin)

泰勒霍普森粗糙度仪校准方法：自动软件校准程序

标准：支持按ISO 4287粗糙度标准校准

参数：标准ISO 4287

ISO 4287（粗糙度）Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku

ISO 4287（基本）Pa, Pz, Pp, Pv, Pt

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO技术

数据输出：屏幕每页顶多5个结果，可选择的屏幕图形

电池：充电器Mini USB 5V 1A交流110-240 V 50/60 Hz

充电时间：4小时

电量：电池寿命充  次电测量超过10,000次

待机时间：5,000小时

InstantOn：从待机状态变成准备测量状态顶多5秒钟时间

自动休眠功能：5分钟

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪