MINITEST730测厚仪 返回列表页

MINITEST730测厚仪

MINITEST730系列：统计型，外置一体式探头,不可更换探头

MiniTest 730 F 1.5铁基涂层，0...1500 µm

MiniTest 730 N 07非铁基涂层，0...700 µm

MiniTest 730 FN 1.5两用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)

MiniTest 730 F2铁基涂层，0...2000 µm

MiniTest 730 F5铁基涂层，0...5000 µm

MiniTest 730 N 2.5非铁基涂层，0...2500 µm

MiniTest 730 FN 5两用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)

MiniTest 730 F15铁基涂层，0...15 mm

EPK涂层测厚仪高度的SIDSP探头特征曲线
EPK MINITEST730在消费过程中，EPK的SIDSP探头要经过严厉的校准。普通的模仿探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上停止校准，大大降低了特征曲线的偏离。因而特征曲线在整个量程范围内都非常精准，将丈量错误降至zui低
EPK涂层测厚仪SIDSP探头对温度变化不敏感
在消费过程中，对每个SIDSP探头都停止了温度补偿的编码，这关于模仿探头是基本不可能完成的。这样温度改动就不会影响丈量，与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发作！