SURTRONIC S128粗糙度仪、泰勒 返回列表页

SURTRONIC S128粗糙度仪、泰勒

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S128

Ra是常用的粗糙度参数。RA：表示轮廓算术平均偏差。在取样长度内，沿测量方向(Y方向）的轮廓线上的点与基准线之间距离值的算术平均值。

rp.Rp：表示大轮廓波峰高度。在取样长度内，大的轮廓高峰顶线和低谷底线之间的距离。当分析一个以上的取样长度时，Rp是每个样品的单个Rp值的平均值。

RSm。rsm是在取样长度内测量的平均线处轮廓峰之间的平均间距。（轮廓峰是轮廓的高点，位于平均线的上下交叉点之间）。
RZ。Rz=Rp+Rv，是分析一个以上采样长度时，一个采样长度内剖面的大峰谷高度Rz是每个采样长度的单个Rz值的平均值。
Rz1大值。在取样长度范围内，剖面的大峰谷高度。在多个采样长度上测量时，取大的单个采样长度值。过去也被称为Rymax、Ry、Rmax或RTI