菲希尔镀层测厚仪XDL210 返回列表页

菲希尔镀层测厚仪XDL210

德国菲希尔X-RAY XDL系列，符合德国的出口规定DEUTSCHE RONTGENVERORDNUNG-ROV，开槽式的测量室设计，可使大块及平坦的样品，比测量室还大的样品，如线路板，都可以测量，能分析多至24种元素。在对焦方面可作自动对焦或手动对焦，对位的十字线是可以调校其刻度及测量点大小的，而且可以调节照明用的发光二极管的光亮度，达到更精确的测量结果。FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列，根据客户的不同需求，提高不同的型号可供选择，不同之处在于测量台的操控，是固定的或可调节的：

XDL 210: 平面样品平台，固定的Z轴系统

XDL 220: 平面样品平台，马达驱动的Z轴系统

XDL 230: 手动操作的X-Y样品平台，马达驱动的Z轴系统

XDL 240: 马达驱动的X-Y样品平台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的Z轴系统，可编程运行，可用两种速度运行。

无锡骏展仪器菲希尔X射线测厚仪特点：

坚固耐用的镀层厚度测量设备，甚至可在较大的距离测量（DCM功能，范围0-80 mm）工作

固定光圈和固定滤光镜

用于1mm起大小的测量点

底部C型开槽的大容量测量舱

可编程的台式设备，用于自动测量

标准X射线管，比例计数器