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粗糙度仪marsurf m300，新MarSurf M 300表面粗糙度测量仪在评估单元和驱动单元之间最多达4m的距离给现场测量带来更多的灵活。在MarSurf...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN252，高性能X射线荧光测量仪，配有硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。