SR540光学斩波器
斩波频率稳定，精度高，是现代进行调制光学测量的bi备部件，主要用于光纤放大器特性测量、光纤光栅传感、光电子材料特性分析等研究从简单的实验到双束和内部调制测量。SR540 具有电压控制输入，四位数字频率显示，十段频率控制，和两种可选工作模式的参考输出。4Hz—3.7kHz 斩波频率，单光束和双光束调制，低相位抖动，和频与差频参考信号输入。

光学斩波器SR540 与锁相放大器搭配起来使用，可组成一套光谱的微弱光信号检测系统，也可以用在电学、磁学等方面测试中。

从简单的实验到双束和内部调制测量。SR540具有电压控制输入，四位数字频率显示，十段频率控制，和两种可选工作模式的参考输出。4Hz—3.7kHz斩波频率，单光束和双光束调制，低相位抖动，和频和差频参考信号输。

在SR540斩波器可处理所有的光学斩波要求，从简单的测量，直到单双光束和互调试验。 SR540有4位数的频率显示，前面板进行频率控制，通过模拟电压增减控制和两个可选择操作模式的参考输出。参考输出相应的频率提供给每个端口，及和差频率。

应用光学斩波器
单束实验
    在此应用中，单光束是由拨片的外孔斩波，并从右侧参考输出BNC接头是用来锁定锁相放大器的参考频率。 内孔也可以使用，在这种情况下，左侧BNC接头将是参考输出。 在这两种情况下，参考模式开关在“向上"的位置。
双束实验
    在这种情况下，从单一源输出并分成双光束，内外孔可将光束分成不同的两个频率。 单束光用作实验而另一种是用来作为参考光束。 光束被重组并发到同一个探测器。 两个锁相放大器分别以不同的Finner和Fouter作为参考频率进行检测。

产品规格： 

一般  
斩波频率               4 Hz to 400 Hz (5/6 slot blade)
                               400 Hz to 3.7 kHz (25/30 slot blade) 
频率稳定度           250 ppm/°C (typ.) 
频率漂移               <2 %, 100 Hz < f < 3700 Hz 
相位抖动(rms)      0.2° (50 Hz to 400 Hz)
                               0.5° (400 Hz to 3.7 kHz)
频率显示               4-digit, 1 Hz resolution and accuracy
频率控制               10-turn pot with 3 ranges:
                               4 Hz to 40 Hz
                               40 Hz to 400 Hz
                               400 Hz to 3.7 kHz
输入控制电压       0 to 10 VDC for 0 to 100% of full scale.
参考模式               ? inner , ? outer , 5 × ? outer ,
                               ? inner  + ? outer , ? outer - ? inner
尺寸：   
控制器：               7.7" × 1.8" × 5.1" (WHL)
斩波器头：           2.8" × 2.1" × 1.0" (WHL) 
叶片直径：           4.04" ±0.002" 4.04“± 0.002" 
电缆长度：           6 ft. 
电源：                   12 W, 100/120/220/240 VAC, 50/60 Hz

保修：                   One year parts and labor on defects in materials and workmanship, 90 days on motor.

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