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T450专精性能膜厚仪匠心打造的细腻品质，采用微聚焦增强型射线管和数字多道脉冲信号处理技术，同时搭载增强FP算法软件与变焦装置，在检测各大小平面、异形件、多层合金及电镀液时更加精准、稳定、高效。
T450专精性能膜厚仪微米级移动精度
变焦对焦一体技术无需标样一键测试
大面积Si-pin半导体探测器
微聚焦高集成垂直光路交换装置
微米级移动精度：高精密移动平台，对多点检测时快速精准定位。
微聚焦高集成垂直光路交换装置：前沿的光路聚焦系统设计，实现对极小测量点高效、精准、稳定检测。
变焦对焦一体技术：可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围可达35mm。
