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日本AITEC艾泰克线性薄型隧道光LLSD-N系列

日本AITEC艾泰克线性薄型隧道光LLSD-N系列

产品核心定位

AITEC艾泰克LLSD-N系列是面向工业检测研发的第四代超薄线性照明系统，凭借18mm的厚度与模块化拼接技术，成功解决了精密电子制造领域的光学检测空间限制问题。该系统通过日本JIS C 8105-1光学认证，已在全球超过200条SMT产线实现规模化应用。

技术创新亮点

1. 复合光学架构

• 采用三层纳米级扩散膜与微棱镜导光板组合设计，实现92%照度均匀性（实测数据）

• 双波长技术：6500K高显色白光（CRI≥95）与850nm红外模式一键切换

• 边缘光补偿算法消除拼接模块间的亮度断层

2. 工业级可靠性

• 航空级铝合金壳体配合石墨烯散热层，温升控制在Δ15℃以内

• IP65防护等级（可选IP67），耐受振动环境（5-500Hz/3G）

• 支持24小时连续工作模式，MTBF超50,000小时

3. 智能控制系统

• 内置PLC通信协议（Modbus RTU/TCP）

• 同步触发延迟＜0.5ms，匹配200mm/ms高速产线

• 可选配AI调光模块，自动匹配不同材质反射率

典型应用案例

1. 微型电子元件检测在0201封装元件外观检测中，系统成功识别0.15mm的焊锡桥接缺陷，某日系汽车电子厂商不良率降低67%

2. 柔性电路板质检通过多模块拼接实现600mm宽幅FPC检测，光强波动控制在±2%以内，替代传统3组环形光源方案

3. 透明材料成像应用于手机玻璃盖板检测时，红外模式可穿透0.3mm厚度玻璃，准确捕捉内部微裂纹

技术服务支持

提供免费的光学模拟测试服务（48小时出具报告），配套AIVision Pro软件可实现照明参数云端管理。现有12种标准尺寸库存（最长3米），特殊波长（如365nm UV）定制周期仅10个工作日。