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瑞士梅特勒METTLER 电子天平XPR226CDR/AC的特点

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瑞士梅特勒METTLER 电子天平XPR226CDR/AC的特点

微信截图_20250401151228.png

每次均可获得可靠的结果.XPR分析天平,最大秤量121/220 g,可读性0.005/0.01 mg,7''电容式彩色触摸屏,用户管理,静电检测,自动内部校正且配有LabX

确保一次性称量准确

集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保满足正确称量的所有相关条件。

StaticDetect静电检测

由于具备StaticDetect静电检测功能,XPR微量分析天平和分析天平可检测样品和容器的静电荷。

随时可进行审核

将XPR分析天平连接至LabX软件,为法规遵从和数据完整性提供全面支持。

核心技术参数与性能

1. 双量程超微量精度

量程与可读性:支持220g/0.01mg(标准量程)和121g/0.005mg(超微量模式)双量程切换,最小称量值(USP 标准)低至8mg,比传统天平节省 30% 样品用量。

传感器技术:采用MonoBloc 单模块传感器(无焊点整体式设计),抗冲击能力提升 3 倍,过载保护达量程的 5 倍,配合SmartGrid 动态温度补偿,可在 ±15℃/ 小时的温变环境下保持称量≤0.02% FS。

2. 自动化加样系统

粉末 / 液体双模式:标配Q3 自动加样模块,支持自由流动粉末(如 API 原料)和低粘度液体(如电解液)的自动分配,最小加样量低至0.4mg(1% 允差),≤0.5%。

智能路径规划:内置3D 动态算法,根据样品特性(如颗粒度、流动性)自动优化加样轨迹,避免结块或飞溅。例如,在锂电池极片涂布测试中,可实现 0.1mg 级浆料分配。

3. 静电消除与抗干扰设计

StaticDetect + 离子发生器:集成方波信号检测技术,实时监测静电荷,当干扰超过阈值时自动报警,并通过内置离子发生器(物料号 30460823)在 3 秒内消除电荷,确保微量称量的准确性。

双重屏蔽系统:采用内层铝箔 + 外层镀锡铜编织网(覆盖率≥90%),配合金属外壳屏蔽,整体屏蔽效能达80dB 以上,可在电机驱动、焊接设备等强电磁环境下稳定工作。



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