菲希尔镀层测厚仪XULM240简介

FISCHERSCOPE X-RAY XUL和 XULM系列菲希尔荧光镀层测厚仪是功能强大的多用途测量设备，能够精准应对各类镀层厚度检测需求。无论是极薄至 50 nm 的金镀层，还是高达 100 μm 的锡镀层，通过优化配置的高压滤片组合，都能实现高精度测量。其搭载的微聚焦管技术，可在短测量距离下实现小至 100 μm 的测量点，精准定位微小区域。同时，比例接收器支持高达数 kcps 的计数率，确保测量数据快速、准确。

在设计上，该系列仪器将 X 射线源与接收器置于测量室下方，大幅简化了样品定位流程，配合视频窗口辅助，可快速完成样品的精准定位。前方的大尺寸控制台设计，让操作更加便捷高效，尤其适用于日常生产中大量部件的快速检测场景。尽管整体结构紧凑，但其配备的大容量测量室，足以容纳大型物品进行检测。此外，壳体 C 型槽开槽设计，专门针对印刷线路板等大尺寸平整样品，即使样品无法置入测量室，也能直接放置于平整支撑台或高精度手动 XY 工作台上，实现灵活检测，充分满足多样化的工业测量需求。