菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射线测厚仪是一款高精密能量色散型 X 射线荧光(EDXRF)检测设备,以下从其测量原理、性能优势、硬件配置、软件系统、应用领域等方面进行介绍:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射线测厚仪测量原理:
X 射线荧光光谱法:基于 X 射线荧光光谱分析技术,设备通过 X 射线源发射初级射线激发样品,使元素原子内层电子跃迁产生特征 X 射线荧光。探测器精准捕获荧光的能量与强度数据,从而实现对元素成分、镀层厚度的定量分析。
基本参数法(FP 法):内置 12 纯元素频谱库(Ag、Cu、Fe、Ni、Zn、Zr、Mo、Sn、W、Au、Pb、Cr),无需标准片即可对镀层系统、固体和液体样品进行测量和分析,同时具备 MQ 值显示,用于判断测量程式与样品匹配度,防止误操作。
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