手机版
Ky开元集团手机版
Ky开元集团小程序
官方微信
公众号：chem17
扫码关注视频号
在半导体制造领域，硫酸作为一种常用的工艺化学品，其纯度对半导体产品的性能和质量起着决定性作用。哪怕是极其微量的金属纳米颗粒杂质，都可能在半导体的微观结构中引发连锁反应，影响电子迁移率、击穿电压等关键参数，进而降低芯片的性能、可靠性，甚至导致产品直接报废，这对于追求高精度、高产出的半导体产业而言，无疑是巨大的挑战。
正因如此，精准检测半导体级硫酸中的金属纳米颗粒成为了行业焦点。今天，我们将深入剖析使用NexION 5000 SP-ICP-MS进行此项检测的实验过程，尤其聚焦其中耗材产品发挥的关键作用，为相关从业者和技术爱好者揭开高效检测的奥秘。
珀金埃尔默NexION 5000 ICP-MS
（点击查看大图）
在半导体级硫酸金属纳米颗粒检测实验中，珀金埃尔默的这些耗材紧密协作，从样品传输、溶液配制到仪器校准，每个环节都至关重要。它们不仅是实验成功的保障，更为半导体行业的质量控制提供了有力支持。
欢迎点击文末阅读原文获取完整资料
正品耗材，安心之选
使用非正品可能导致仪器性能下滑甚至损坏，造成不必要的损失。请认准珀金埃尔默官方渠道，购买带有防伪标签的正品耗材，为你的实验结果上保险！
维保服务，全面升级
我们提供黄金优享、白金全保等合约服务，涵盖预防性维护、免费上门维修、零部件费用减免及工程师快速响应等，让您的仪器始终处于最佳状态！
关注我们
欢迎点击阅读原文获取完整资料
相关产品
免责声明
- 凡本网注明“来源：Ky开元集团”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-Ky开元集团合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：Ky开元集团”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源（非Ky开元集团）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。
采购中心
