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Niton 分析仪采用先进的能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术，构建了一套完整的元素分析生态系统。当仪器发射的初级 X 射线束轰击样品表面时，元素原子内层电子被激发产生空穴，外层电子跃迁填补空穴时释放出特征 X 射线荧光。通过高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕捉这些具有元素特异性的能量信号，结合 Axon 技术平台的智能算法，可在 2-60 秒内完成从 Na（11）到 U（92）共 70 余种元素的定性定量分析。
以铝合金成分检测为例，传统湿法分析需 2 小时以上的前处理流程，而 Niton XL2 型号可在现场直接穿透氧化膜，精确测定 Si、Mg、Cu 等合金元素的百分占比，误差控制在 ±0.1% 以内。这种 "即测即得" 的技术优势，改变了实验室检测的时空限制
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