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Niton 分析仪X 射线荧光技术信息

来源:笃挚仪器(上海)有限公司   2025年07月04日 17:15  
Niton 分析仪依托前沿的能量色散 X 射线荧光(EDXRF)技术,构建起一套完整且智能的元素分析生态系统。该技术以物理学中的光电效应和特征 X 射线理论为基石,当仪器发射的高能初级 X 射线束精准轰击样品表面时,元素原子内层电子因获得足够能量被激发产生空穴,外层电子随即跃迁填补,在此过程中释放出具 "指纹" 特征的 X 射线荧光。


仪器配备的高分辨率硅漂移探测器(SDD)采用半导体材料制成,具备纳米级的能量分辨率和超快响应速度,能够精准捕捉这些微弱的能量信号。在 Axon 技术平台的加持下,通过智能算法对原始数据进行实时降噪处理,利用机器学习模型对复杂光谱进行解卷积分析,从而有效消除元素谱线重叠干扰


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