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Niton 分析仪光谱仪的核心技术是能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术。这一技术利用 X 射线与物质相互作用时产生的荧光现象，实现对元素的精确分析。当仪器发射的初级 X 射线束照射到样品表面时，样品中的原子吸收 X 射线能量，使其内层电子被激发跃迁到高能级，形成不稳定的激发态。随后，外层电子迅速填补内层电子留下的空位，在这个过程中释放出具有特定能量的 X 射线荧光。不同元素的原子结构不同，其产生的 X 射线荧光能量也各不相同，就如同每个人都有指纹一样。Niton 分析仪光谱仪通过高分辨率硅漂移探测器（SDD）精确测量这些 X 射线荧光的能量和强度，再结合先进的智能算法，能够在极短的时间内准确识别样品中所含的元素种类，并精确测定其含量。从周期表中的轻元素钠（Na）到重元素铀（U），共 70 余种元素都能被 Niton 分析仪光谱仪敏锐地 “感知” 和分析。这种基于微观层面的元素分析技术，为各行业提供了深入了解物质组成的有力工具
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