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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列菲希尔X荧光射线测厚仪是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希尔X荧光射线测厚仪采用了基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
菲希尔X荧光射线测厚仪典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄杜策，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
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