YP-XM04 小麦表型分析系统

一、小麦表型分析系统产品简介

小麦智能测量系统集成图像识别与深度学习技术，为作物研究提供多维度数据支持。该系统包含四大核心模块：

1）亩穗数测量仪通过多点多维分析，精准测算亩穗数、理论产量及千粒重，助力品种筛选与基因研究；

2）株高测量仪依据不同生长期标准（幼苗期/拔节期/灌浆期等），智能区分伪茎高度、真茎高度及植株全长；

3）夹角茎粗测量仪适配小麦、水稻等多作物，快速获取茎秆形态参数；

4）麦穗形态测定仪依托手机视觉技术，通过AI图像矫正算法一键获取穗长、小穗数等关键指标。全系统实现田间快速取样、批量分析及数据互联，为育种优化、产量预测和功能基因解析提供智能化解决方案。

二、小麦表型分析系统应用范围

1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。

2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期。

3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。

4、千粒重测量时期： 室内考种时期。

5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。

三、技术参数

1. 小麦亩穗数

(1) 测量范围：1000mm*1000mm*(610~1120)mm
       1000mm*1000mm*(1010~1920)mm

(2) 测量误差：≤±3%

2. 麦穗形态

(1) 测量范围：5~25cm

(2) 测量误差：穗长误差：±1%

小穗数误差：≤3个

3. 小麦夹角

(1) 测量范围：0-180°

(2) 测量误差：±1°

4. 作物茎粗

(1) 测量范围：0-8cm

(2) 测量误差：±1mm

5. 千粒重

(1) 测量范围：0-300g

(2) 测量误差：±2%

6. 株高

(1) 测量范围：5-260cm

(2) 测量误差：±1mm