光存储器测试仪
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 东谱科技(广州)有限责任公司
- 品牌 东谱
- 型号
- 产地 中国
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/6/30 18:05:11
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产品关键词:超分辨成像,超小空间扫描,三维智能成像测试,全自动软件测试系统
产品特点
1. 双光束技术架构与应用场景
支持 多波长并行激发 / 探测 配置(如 405nm+633nm 双光束),通过 光纤分束 + 同步时序控制 实现
2. 超分辨成像:突破衍射极限的 < 160 nm 能力
采用 结构光照明显微镜(SIM)+ 算法重构 技术,将横向分辨率推至 <160 nm(超越传统共焦~250 nm 极限)
3. 6 nm 超小空间扫描分辨率:纳米级定位的技术底气
依托 压电陶瓷扫描平台 + 激光干涉反馈,实现 6 nm 级扫描步长与定位精度
4. 三维智能成像:从 “切片” 到 “全息” 的跨越
集成 Z 轴层析(步长 < 50 nm)+AI 驱动重构,实现全自动三维表征
5. 全自动软件测试系统:流程化与智能化的融合
软件覆盖 “控制 - 采集 - 分析 - 报告” 全链条自动化