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| 产地类别 | 进口 | 产品种类 | 非接触式轮廓仪/粗糙度仪 |
|---|---|---|---|
| 价格区间 | 面议 | 应用领域 | 电子/电池,电气 |
光学轮廓仪NPFLEX 3D
核心参数
产品种类：非接触式轮廓仪/粗糙度仪
工作原理：白光干涉仪
产品介绍
简介
NPFLEX三维表面测量系统是一款针对大样品设计的非接触测试分析系统，提供高效的三维表面信息测量，具备垂直方向亚纳米分辨率，能灵活测量大尺寸及特殊角度的样品。该系统基于白光干涉原理，可快速获取详细测量数据，适用于精密制造业，提高产品质量和生产力。它还提供了多种配件选择，以满足不同客户的测量需求。
NPFLEX 三维表面测量系统
针对大样品设计的非接触测试分析系统
灵活测量大尺寸、特殊角度的样品
高效的三维表面信息测量
垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
快速获取测量数据，测试过程迅速高效
NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量
布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。
其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品
创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多
开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位
高效的三维表面信息测量
每次测量均可获得完整表面信息,并可用于多种分析目的
更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障
测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效
最少的样品准备时间和测量准备时间
比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据
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