本试验不适用千在高溫或低温条件下进行。除另有规定或有理由相信高温或低温可增强弹道冲击环 境外，一般在室温条件下进行弹道冲击试验。

   对所有电子、机械和机电装备产生不利的影响。不利影响的程度一般随着弹道 冲击的址级和持续时间增加而增大，并且随着到弹道冲击源（撞击点或点阵）的距离增加而减小。当弹道冲击的待续时间使其产生的材料应力波的波长与装备中微电子器件固有频率的波长一致时，会增强不利 影响。当弹道冲击的持续时间使其产生的结构响应运动与机械或机电装备的低频共振一致时，会增强不 利影响。