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同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻 参考价：面议
同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻专为自动精密测量电阻和相关量而设计。半导体参数分析仪RTM2将直流和交流测量与集成开关矩阵结合在一起。
无掩膜智能投影光电流系统 参考价：面议
无掩膜智能投影光电流系统AUT-XperP-Projector，高频灰度实现线性可调的同时可以快速切换长度，来对整个阵列的所有器件进行激发。
半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统 参考价：面议
半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统利用半导体参数分析仪RTM2的集成开关矩阵实现无限的精度和稳定性用于片状、霍尔和电阻张量的测量。
时域热反射测量系统 （TDTR 测试系统） 参考价：面议
我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数，薄膜测量厚度可达纳米量级！在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以...
高效率荧光寿命成像系统 参考价：面议
高效率荧光寿命成像系统或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度，这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰...
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