菲希尔荧光射线测厚仪XDL230 返回列表页

菲希尔荧光射线测厚仪XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有：

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄镀层，例如：装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 测量印刷线路板

• 分析电镀溶液

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希尔X射线测厚仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希尔X射线测厚仪由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。