菲希尔、X射线测厚仪XDL240 返回列表页

菲希尔、X射线测厚仪XDL240

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240

X射线镀层测厚仪简介：

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?X-RAY XDL 210/220/230/240典型的应用领域有：

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层，例如：装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

测量印刷线路板

分析电镀溶液