菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN250 返回列表页

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN250

菲希尔X射线测厚仪XAN 250 和 XAN 252 特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。

典型的应用领域

·在电子和半导体工业中，测量功能性镀层，镀层厚度*薄可低至数纳米

·出于保护消费者为目的的痕量分析，如玩具中的铅含量等

·在珠宝、手表业及金属冶炼业中，以*高的精度分析合金成分

·高科院校的学术研究以及工业领域的技术研发

为了使每次测量都能在良好的条件下进行，仪器配备了可电动切换的多种准直器及基本滤片。先进的硅漂移接收器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。对于高精度要求的测量任务，则可随时进行必要的校准。