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北京时代光南检测技术有限公司
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产品介绍
涂层测厚仪探头
 | 涂层测厚仪探头F1
2、两点校准：±[(1～3)%H+1]um
2、基体最小面积的直径：Ф7mm 3、最小临界厚度：0.5mm
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F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围.
N1探头是涡流法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围.
 | 涂层测厚仪F400探头
2、两点校准：±[(1～3)%H+0.7]um
2、基体最小面积的直径：Ф3mm 3、最小临界厚度：0.2mm
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F400为选配探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更精准的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是较好的选择。
F10为选配探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。
涂层测厚仪F1|90探头
2、两点校准：±[(1～3)%H+1]um
2、基体最小面积的直径：Ф7mm 3、最小临界厚度：0.5mm
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F1/90为选配探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中；对于夹层和细缝中的涂层厚度也能很好的测量。
CN02为选配探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10-200um之间。
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