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  • 半导体微聚焦X射线检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：AX8300Si
    半导体微聚焦X射线检测设备专为半导体封装与电子元器件设计的高精度无损检测设备，采用微米级聚焦X射线技术，实现芯片内部结构的二维/三维可视化检测，满足半导体行业对...
    型号： AX8300Si 品牌：日联科技所在地：广州市 对比
    半导体X-Ray检测设备AX8300S微聚焦X射线检测系统高精度半导体缺陷检测仪BGA/CSP X光检测设备离线式X-Ray检测设备
    2025/7/15 12:24:5227
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