成都藤田科技有限公司

中级会员·1年

联系电话

19938139269

您现在的位置: 成都藤田科技有限公司>>日本大塚Otsuka>> 日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE
日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE
参考价: 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号
  • OTSUKA/日本大塚 品牌
  • 代理商 厂商性质
  • 成都市 所在地

访问次数:131更新时间:2025-02-21 14:24:42

联系我们时请说明是Ky开元集团上看到的信息,谢谢!

日本AND

日本福乐FLUORO

日本THREEBOND三键株式会社

日本武藏musashi

日本AITEC艾泰克

日本NPM电机

日本SSD静电

德国SICK

日本大塚Otsuka

日本YAMADA气动泵

日本ESTIC艾斯迪克

美国MEISEI

安泰信ATTEN

韩国DIT静电

日本CEDAR思达

日本EPSON爱普生

好帮手ASA

日本HONDA本多

瑞士Regine Group

日本JP-Probe探头

日本PISCO匹士克

日本加野KANOMAX

日本八光HAKKO

THINKY新基

古安泰

HEIDON新东科学

MALCOM马康

日本MITUTOYO三丰

日本OPK

日本SHOWA昭和测器

西班牙JBC

日本AVIO

EYELA 東京理化

日本SIGMAKOKI西格玛

C彩谱

日本 KONAN 甲南

美国Mountz蒙士

中国台湾CHELIC气立可

中级会员·1年
人:
马经理
话:
18284451551冉经理
机:
19938139269,18284451551
址:
中国四川省成都市郫都区创智东二路58号绿地银座A座1118
化:
www.fujita-cd.cn
址:
www.fujita-cn.com

扫一扫访问手机商铺

产品简介
产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合
日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE-成都藤田科技提供
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
产品介绍

日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE

产品信息

特点

● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)

● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位

● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的粒径zeta电位

● 可以在高盐浓度下测定平板状样品的zeta电位

● 可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能,可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析,提供高精度的ZETA电位测量结果

● 可安装荧光滤光器(选配)


用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究,不仅涉及微小颗粒,还涉及薄膜和平板表面的科学研究。


● 新型功能材料领域

- 燃料电池相关(碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属)

- 纳米生物相关(纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子)、纳米气泡等。


● 陶瓷/着色材料工业领域

- 陶瓷(二氧化硅/氧化铝/氧化钛等)

- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

- 颜料的分散/聚集控制(炭黑/有机颜料)

- 浆料状样品

- 滤光器

- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究


● 半导体领域

- 异物附着在硅晶片表面的原理解析

- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

- CMP浆料的相互作用


● 聚合物/化工领域

- 乳液(涂料/粘合剂)的分散/聚集控制,乳胶的表面改性(医药/工业)

- 聚电解质(聚苯乙烯磺酸盐,聚羧酸等)的功能研究

- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究


● 制药/食品工业领域  

- 乳液(食品/香料/医疗/化妆品)分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂(胶束)机能性检测


原理

粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)

由于溶液中的粒子根据粒子的大小在做布朗运动,粒子受到光照射时会得到的散射光。小粒子呈现快速波动,大粒子呈现缓慢波动。通过光子相关法分析这种波动,就可以求得粒度和粒度分布。

日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE

   


分析流程

日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE

zeta电位测量原理:电泳光散射法 (激光多普勒法)

对溶液中的粒子施加电场时,可以观察到粒子电荷所对应的电泳动。籍由此电泳速度可以求得ZETA电位及电泳移动度。
电泳散射法将光照射在泳动中的粒子上得到散射光,根据散射光的多普勒位移量求得电泳速度。
因此也被称之为激光多普勒(Laser Doppler)法。

日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE    




参数


测量原理

粒径

动态光散射法(光子相关法)

ZETA电位

电泳光散射法(激光多普勒法)


分子量

静态光散射法


光学系统

粒径

零差光学系统

ZETA电位

外差光学


分子量

零差光学系统


光源

高功率半导体激光器


探测器

高灵敏度APD


样品池单元

ZETA电位:标准池 微量一次性池或浓缩池


粒度/分子量:方形池



温度

0~90℃(带温度梯度功能)


电源

220V ± 10% 250VA


尺寸(WDH)

330(W)×565(D)×245(H)


重量

22Kg




测量范围


ZETA电位

No effective limitations(无有效上限)

电气移动度

-2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s

粒径

0.6nm ~ 10um


● 对应范围

测量温度范围

0~90℃

测量浓度范围

Zeta电位:0.001~40% 粒径:0.00001%(0.1ppm)~40%*1

*1(标准粒子: 0.00001 ~ 10%、牛磺酸: ~ 40%)


日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统·ELSEneoSE-成都藤田科技提供












会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~
产品对比 二维码

扫一扫访问手机商铺

对比框

在线留言