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日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统
参考价: 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号
  • OTSUKA/日本大塚 品牌
  • 代理商 厂商性质
  • 成都市 所在地

访问次数:238更新时间:2025-02-22 11:26:45

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产品简介
产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合
日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供
特点: 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法(衍射光栅), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量, 对应CIE推荐的宽波长范围(355 nm至835 nm) 光学系统降低了...
产品介绍

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统

产品信息

特殊长度

● 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量

● 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量

● 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布,并通过球带系数法获得总光谱通量、总光通量、色度、色温等。

● 采用新型检测器,可进行宽动态范围测量与 IESNA LM-75 兼容

● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C

● 支持紫外和近红外区域的配光测量

● 可提供发光强度标准灯泡(JCSS)

 

评价项目

发光强度角分布(配光)

光谱辐射通量(光谱)

饱和度坐标 (u', v') [JIS Z8781-5]

饱和度坐标 (x, y) [JIS Z 8724]

显色指数(Ra、R1 至 R15)[JIS Z 8726]

相关色温和 Duv [JIS Z 8725]

主波长(Dominant)和刺激纯度(Purity)[JIS Z8781-3]

IES(符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5)文件 

* 1 IES分析软件[大冢电子制造]也可以读取和分析其他公司的光分布测量设备计算出的IES文件。


规格

规格
模型GP-500 *1GP-1100 *1GP-2000
光学系统*22轴测角仪

θφ坐标系

θφ坐标系αβ坐标系/θφ坐标系
光路长度500 毫米或更小500-1500mm1500 毫米或更多
对应样品LED芯片通用照明一般照明,包括直管灯

模块

探测器多通道光谱仪
测量波长范围 *3220nm-2500nm
评价项目光强度的角度分布(光分布)
光谱辐射通量(spectrum)
色度坐标(u',v')[JIS Z8781-5]
色度坐标(x,y)[JIS Z 8724]
·主要波长(Dominant)和刺激纯度(Purity)[JIS Z8781-3]
·相关色温和Duv[JIS Z 8725]
·色彩性能评价数(Ra,R1至R15)[JIS Z 8726]
·IES(LM63-2002)和 JIS Z 8105-5 兼容)

* 1 可以进行光谱辐射的光分布测量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以选择检测器的波长范围
* 4 IES 分析软件[大冢电子制造] 由另一家公司的光分布测量设备计算。IES 文件可以阅读和分析


配光测量方法中的坐标系类型(JIS C 8105-5)

坐标系
类型
相对于极轴的倾斜角
以极轴为旋转中心的倾斜角
IESNA LM-75 符号

(垂直角)

(水平角)

角标

角度范围角标角度范围
αβ坐标系α-90°≤α≤90°β-180°≤β<180°B型
θφ坐标系θ0°≤θ≤180°θ0°≤φ<360°C型

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统


设备配置


 日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统


核心特点


  1. 超大基板全覆盖:专为下一代尺寸玻璃基板设计(支持超长/超宽规格),可高效测量LCD、TFT、有机EL等大型面板,兼容PI、ITO、SiN、介电层等复杂膜层结构。


  2. 纳米级精度与秒级速度:采用分光干涉+AI算法技术,单点测量时间<1秒,膜厚精度±0.1nm,光学常数(n/k)解析<0.5%,满足量产级质量控制需求。


  3. 全场景适配性:从研发实验室到自动化产线,支持在线(inline)集成,可定制XYZ多轴平台,实现基板全域厚度分布映射与缺陷快速筛查。


  4. 高速量产优化:每小时可检测超3000点,支持多探头并行测量,大幅提升玻璃基板(如G8/G10)产线效率,降低设备综合成本(CoO)。


  5. 超薄与超厚膜通吃:量程覆盖1nm至200μm,适用于OC(光学胶)、Resist(光刻胶)等软膜与硬质涂层的精准厚度控制。


  6. 低维护:非接触式测量设计,无探针损耗,长期使用稳定性达99.8%,搭配远程诊断功能,减少停机风险。

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供






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