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成都藤田科技有限公司
中级会员·1年您现在的位置： 成都藤田科技有限公司>>日本大塚Otsuka>> 日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统
具体成交价以合同协议为准
- 联系人：
- 马经理
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- 18284451551冉经理
- 手机：
- 19938139269,18284451551
- 地址：
- 中国四川省成都市郫都区创智东二路58号绿地银座A座1118
- 个性化：
- www.fujita-cd.cn
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产品简介
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...
产品介绍
日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供
产品信息
特殊长度
● 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量
● 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量
● 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数法获得总光谱通量、总光通量、色度、色温等。
● 采用新型检测器，可进行宽动态范围测量与 IESNA LM-75 兼容
● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C
● 支持紫外和近红外区域的配光测量
● 可提供发光强度标准灯泡（JCSS）
评价项目
发光强度角分布（配光）
光谱辐射通量（光谱）
饱和度坐标 (u', v') [JIS Z8781-5]
饱和度坐标 (x, y) [JIS Z 8724]
显色指数（Ra、R1 至 R15）[JIS Z 8726]
相关色温和 Duv [JIS Z 8725]
主波长（Dominant）和刺激纯度（Purity）[JIS Z8781-3]
IES（符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5）文件
* 1 IES分析软件[大冢电子制造]也可以读取和分析其他公司的光分布测量设备计算出的IES文件。
规格
规格
| 模型 | GP-500 *1 | GP-1100 *1 | GP-2000 |
| 光学系统*2 | 2轴测角仪 | ||
θφ坐标系 | θφ坐标系 | αβ坐标系/θφ坐标系 | |
| 光路长度 | 500 毫米或更小 | 500-1500mm | 1500 毫米或更多 |
| 对应样品 | LED芯片 | 通用照明 | 一般照明，包括直管灯 |
模块 | |||
| 探测器 | 多通道光谱仪 | ||
| 测量波长范围 *3 | 220nm-2500nm | ||
| 评价项目 | 光强度的角度分布（光分布） 光谱辐射通量（spectrum） 色度坐标（u'，v'）[JIS Z8781-5] 色度坐标（x，y）[JIS Z 8724] ·主要波长（Dominant）和刺激纯度（Purity）[JIS Z8781-3] ·相关色温和Duv[JIS Z 8725] ·色彩性能评价数（Ra，R1至R15）[JIS Z 8726] ·IES（LM63-2002）和 JIS Z 8105-5 兼容） | ||
* 1 可以进行光谱辐射的光分布测量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以选择检测器的波长范围
* 4 IES 分析软件[大冢电子制造] 由另一家公司的光分布测量设备计算。IES 文件可以阅读和分析
配光测量方法中的坐标系类型（JIS C 8105-5）
| 坐标系 类型 | 相对于极轴的倾斜角 | 以极轴为旋转中心的倾斜角 | IESNA LM-75 符号 | ||
(垂直角) | (水平角) | ||||
角标 | 角度范围 | 角标 | 角度范围 | ||
| αβ坐标系 | α | -90°≤α≤90° | β | -180°≤β<180° | B型 |
| θφ坐标系 | θ | 0°≤θ≤180° | θ | 0°≤φ<360° | C型 |
设备配置
核心特点：
超大基板全覆盖：专为下一代尺寸玻璃基板设计（支持超长/超宽规格），可高效测量LCD、TFT、有机EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介电层等复杂膜层结构。
纳米级精度与秒级速度：采用分光干涉+AI算法技术，单点测量时间＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光学常数（n/k）解析＜0.5%，满足量产级质量控制需求。
全场景适配性：从研发实验室到自动化产线，支持在线（inline）集成，可定制XYZ多轴平台，实现基板全域厚度分布映射与缺陷快速筛查。
高速量产优化：每小时可检测超3000点，支持多探头并行测量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）产线效率，降低设备综合成本（CoO）。
超薄与超厚膜通吃：量程覆盖1nm至200μm，适用于OC（光学胶）、Resist（光刻胶）等软膜与硬质涂层的精准厚度控制。
低维护：非接触式测量设计，无探针损耗，长期使用稳定性达99.8%，搭配远程诊断功能，减少停机风险。
日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供
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