联系电话
成都藤田科技有限公司
中级会员·1年您现在的位置： 成都藤田科技有限公司>>日本大塚Otsuka>> 日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚测量系统
具体成交价以合同协议为准
- 联系人：
- 马经理
- 电话：
- 18284451551冉经理
- 手机：
- 19938139269,18284451551
- 地址：
- 中国四川省成都市郫都区创智东二路58号绿地银座A座1118
- 个性化：
- www.fujita-cd.cn
扫一扫访问手机商铺
产品简介
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
产品信息 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。 除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法 LCD ITO...
产品介绍
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚测量系统-成都藤田科技提供
产品信息
特殊长度
可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
用法
LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有机EL
有机EL / ITO / 玻璃
PDP
介电层/玻璃
核心特点：
超大基板全覆盖：专为下一代尺寸玻璃基板设计（支持超长/超宽规格），可高效测量LCD、TFT、有机EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介电层等复杂膜层结构。
纳米级精度与秒级速度：采用分光干涉+AI算法技术，单点测量时间＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光学常数（n/k）解析＜0.5%，满足量产级质量控制需求。
全场景适配性：从研发实验室到自动化产线，支持在线（inline）集成，可定制XYZ多轴平台，实现基板全域厚度分布映射与缺陷快速筛查。
高速量产优化：每小时可检测超3000点，支持多探头并行测量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）产线效率，降低设备综合成本（CoO）。
超薄与超厚膜通吃：量程覆盖1nm至200μm，适用于OC（光学胶）、Resist（光刻胶）等软膜与硬质涂层的精准厚度控制。
低维护：非接触式测量设计，无探针损耗，长期使用稳定性达99.8%，搭配远程诊断功能，减少停机风险。
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚测量系统-成都藤田科技提供
相关产品
