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成都藤田科技有限公司
中级会员·1年您现在的位置： 成都藤田科技有限公司>>日本大塚Otsuka>> 日本Otsuka大塚FHS-1000高灵敏度光谱仪
具体成交价以合同协议为准
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- 19938139269,18284451551
- 地址：
- 中国四川省成都市郫都区创智东二路58号绿地银座A座1118
- 个性化：
- www.fujita-cd.cn
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产品简介
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...
产品介绍
日本Otsuka大塚FHS-1000高灵敏度光谱仪-成都藤田科技提供
产品信息
特长
采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅），
0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m2的高亮度都可测量，
对应CIE推荐的宽波长范围（355nm至835 nm）
光学系统降低了偏振误差（<1％），
并且像LCD一样具有偏振特性的样品也可以进行高精度测量
可以执行最短1秒的高速测量，包括通信时间。
（在连续测量的情况下，可以更快的进行测量，最短约20毫秒/次）
可在不改变测量角度下测量的广泛的亮度范围。
（测量角度2°时，0.005cd / m2~4,000cd / m2）
可以对频率照明光源执行高精度的稳定测量。
（输入照明频率自动将曝光时间设置为照明周期的整数倍）
搭载了对应响应测量的产品。※
也可能对应人眼可视颜色外观模型“CIECAM 02标准“的输出。※
考虑到眼睛薄度（浦肯野现象现象），也可对应“CIE 200：2011标准“的输出。※
測定項目
-辐射率（W / sr / m 2）
- 亮度（cd / m 2）
- 色度坐标xy [符合CIE 1931]
- 色度坐标U'V'[CIE 1976兼容]
- 色度坐标U'V'[符合CIE 1976]
- 相关色温 - 色度（C）* 3
- CIE颜色系统2°/ 10°
- 三刺激值XYZ - 等效亮度值* 4
- 偏差
- 光谱数据的算术运算
- 光谱数据的功能处理
- 色域(NTSC比率)* 1
- 响应速度* 2
- 明度（J）* 3
- 亮度（Q）* 3
- 饱和度(s)* 3
- 色度（C）* 3
- 色彩（M）* 3
* 1选项
* 2使用HS-1000 RT
* 3符合CIECAM 02标准时
* 4 CIE 200：符合2011标准时
用途：
LCD、PDP、有机EL，大屏幕LED等的视觉光谱数据•亮度•色度•相关色温测量
照明光源的光谱数据，例如灯•亮度•色度•相关色温测量
作为各种亮度/色度测量仪器的参考设备
对非接触式物体的颜色测量
规格式样
HS-1000 | |
|---|---|
测色方式 | 分光方式 |
波长范围 | 355 nm ~ 835 nm / 330 nm ~ 1100 nm |
量测角 | 0.1°、0.2°、1°、2° |
测量距离※ | 24 0mm ~ ∞ |
测量面积直径 | 约10.0m m以下 |
测量面积直径 | 约5.0mm 以下 |
测量面积直径 | 约1.0mm 以下 |
测量面积直径 | 约0.5mm 以下 |
辉度精度 | ±2% |
色度精度 | ±0.002 以下 |
尺寸 | 187(W) x 249(H) x 400（D) mm 以下 |
重量 | 约7.5kg 以下 |
※以接物镜头之前端为起始
系统架构图
核心特点：
超大基板全覆盖：专为下一代尺寸玻璃基板设计（支持超长/超宽规格），可高效测量LCD、TFT、有机EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介电层等复杂膜层结构。
纳米级精度与秒级速度：采用分光干涉+AI算法技术，单点测量时间＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光学常数（n/k）解析＜0.5%，满足量产级质量控制需求。
全场景适配性：从研发实验室到自动化产线，支持在线（inline）集成，可定制XYZ多轴平台，实现基板全域厚度分布映射与缺陷快速筛查。
高速量产优化：每小时可检测超3000点，支持多探头并行测量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）产线效率，降低设备综合成本（CoO）。
超薄与超厚膜通吃：量程覆盖1nm至200μm，适用于OC（光学胶）、Resist（光刻胶）等软膜与硬质涂层的精准厚度控制。
低维护：非接触式测量设计，无探针损耗，长期使用稳定性达99.8%，搭配远程诊断功能，减少停机风险。
日本Otsuka大塚FHS-1000高灵敏度光谱仪-成都藤田科技提供
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