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日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪
参考价: 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号
  • OTSUKA/日本大塚 品牌
  • 代理商 厂商性质
  • 成都市 所在地

访问次数:61更新时间:2025-06-07 10:02:39

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产品简介
产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合
日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪-成都藤田科技提供
“便携式手持型"重量仅为 1.1 公斤,易于携带
“高精度测量和简单测量" 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量
“兼容多层薄膜" 最多可测量 3 层多层薄膜
“无损、非接触式测量"测量,不损坏样品
“测量各种样品" 无论基材(玻璃或塑料)如何,都可以进行测量
产品介绍

日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪-成都藤田科技提供日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪

产品信息

特征
  • “便携式手持型"重量仅为 1.1 公斤,易于携带

  • “高精度测量和简单测量" 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量

  • “兼容多层薄膜" 最多可测量 3 层多层薄膜

  • “无损、非接触式测量"测量,不损坏样品

  • “测量各种样品" 无论基材(玻璃或塑料)如何,都可以进行测量

日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪
日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪
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日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪
日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪
日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪

规范

规格
项目专业版标准
SM-100P 系列SM-100S 系列
测量方法反射光谱法(光学干涉法)
测量薄膜厚度范围*10.1~100μm(单层)
1~100μm(多层)
1~50μm (单层)
多层支持最多 3 层1 层
测量可重复性2.1σ 0.01μm (氧化硅膜 1μm)
测量光斑直径Φ1mm 以下
测量时间小于 1 秒
数据输出格式以文本格式导出到 U 盘
体型约 138 (W) × 198 (D) × 61 (H) 毫米
 重量约 1.1 千克
行驶时间4 小时或更长时间(测量)
电源电压/电源AC100-240V/35VA (交流适配器输入)
防护等级IP30/IK06 防护等级

*1 样品折射率为 1.6 时

日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪-成都藤田科技提供





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