17780519478
当前位置：成都藤田光学仪器有限公司>>光学仪器>>日本otsuka大塚电子>> 日本otsuka大塚电子Smart膜厚仪
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,建材/家具,电子/电池,汽车及零部件,综合 |
产品信息
特点
● 可携带至现场的手持式
● 可测量0.1μm单位
● 具有形状的样品也可非破坏的测量
● 不论基材材质、可测量其镀膜
测量项目
| 膜厚测量范围 | 1μm～50μm |
| 测量重复性 | 0.01μm |
| 测量时间 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较
与桌上型光学膜厚仪相比，Smart膜厚仪在“现场”以非破坏式直接量测样品，且可以量测特殊形状样品。
与接触式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因为用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚计的量测精度。
与涡电流/电磁式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不需要制作检量线，且可以量测非金属基材并且得到值！
不需要量测经验，可快速得到精准的膜厚结果
规格样式
| 量测原理 | 反射分光法（光干涉法）、非破坏性量测 |
| 膜厚量测范围 | 1~50μm（显示上限60μm） |
| 重复精度 | 2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm） |
| 量测时间 | 1秒内 |
| 量测层数 | 1层 |
| 数据输出 | 附属操作屏幕显示或以USB输出Excel档案 |
| 量测Spot | Φ1mm以下 |
| 重量 | |
| 约1.1kg |
选配
笔型探头
能够测量狭窄区域或形状的样品。 探头端Φ6mm。
非接触式载台
对于湿膜或半导体晶圆等不想接触的样品，可以通过自由设定探头位置进行非接触测量。
使用场景
产品开发-量测试作品
1.携带到合作厂商等，直接在现场量测效率Up
2.试作阶段的检查方法商定效率Up
日本otsuka大塚电子Smart膜厚仪出售
产线-设定产线参数、提高良率
1.现场可直接量测，无须准备，量测时间短、效率Up
2.产品检查的早期阶段发现问题，事后的对策更加灵活
质量管理-品管效率Up
1.现场可直接量测高精度量测成品，尽早发现不良品异状
2.事后的对策可更加灵活
日本otsuka大塚电子Smart膜厚仪
After Service-活用可携带的优点
在产品出货后的客户端也可直接带去量测。
现场较难量测的立体物、无法切割破坏的样品（例如：窗户的Coating等）。
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，Ky开元集团对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
Ky开元集团