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| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 电子/电池,综合 |
美国AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光测量仪
AxoScan 是测量样品偏振特性的系统。AxoScan可被偏振片、缓震膜和液晶显示器制造商以及这些产品的用户所采用。AxoScan 可以测量偏振特性（全穆勒矩阵），报告样品的关键偏振参数（偏振片特性、缓释片特性、去极化特性）。测量在单个位置进行，通常是直径为 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要测量更小的特征，可考虑使用 AxoStep 成像偏振仪。与只测量特定偏振参数子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振仪不同，AxoScan 和 AxoStep 可测量完整的穆勒矩阵。穆勒矩阵的 16 个元素包含了样品可能的偏振特性。有易于使用的软件可自动将穆勒矩阵转换为透射率、偏振片特性（衰减和偏振）、延迟和去极化等有意义的参数。Axometrics 还可为较多行业提供定应用软件。
美国AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光测量仪
技术参数
| 型号 | MMSP-VIS |
| 波长范围 | 400-1000 nm |
| 探测器类型 | 硅光电二极管 |
| 分辨率 | 约1320 x 1024 |
| 时间 | 约1~2.5秒/区域 |
| 探测器尺寸 | 7.87毫米（直径） |
| 型号 | MMP-HSO |
| 波长范围 | 380-700 nm |
| 探测器类型 | 光电倍增管 |
| 型号 | MMP-NIR |
| 波长范围 | 1250 - 1600 nm |
| 探测器类型 | InGaAs 光电二极管 |
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