随时掌握行业动态
网络课堂 行业直播
手机访问更快捷
更多流量 更易传播
产品
Agilent/安捷伦 Accu ABI/美国 AB罗克韦尔 BANNER/美国邦纳 BD/美国 DUNGS/德国 EUCHNER/德国安士 HIOKI/日本日置 HEIDENHAIN/德国 锦正茂 KEYSIGHT/美国是 Keithley/美国吉 Microtrac MRB/拜 MW Industries OMRON/欧姆龙 OLYMPUS/奥林巴斯 PARKER/美国派克 PULUODY/普洛帝 PILZ/德国皮尔兹 SIKC/德国 WIKA/德国 BERTHOLD/德国 ITECH/艾德克斯 LEBO/雷博 明德 MIY/米远电气 OTSUKA/日本大塚 其他品牌
在线询价
TM-1240超声声速仪PX 0
金属测厚仪PX 0
TM-8816超声波测厚仪PX 0
Toptica-可调谐频率变换半导体激光器PX 0
Toptica-可调谐高功率、放大级半导体激光器PX 0
MX63/MX63L半导体FPD/工业检测显微镜PX 0
FLR-8800便携式X射线机DR成像检测系统(FLR-8800)PX 0
HRMS-800半导体材料 高温 四探针 测试仪PX 0
PIC16F73-I/SO*英锐恩现货PIC16F73-I/SO回馈新老客户PX 0
PIC16F726-I/SO*现货PIC16F726-I/SO 回馈新老用户PX 0
CM-8829H涂层测厚仪(磁感应大量程) CM-8829HPX 0
GM-0660°光泽度计(分体式) GM-06PX 0
GM-02620°/60°光泽度计(分体式) GM-026PX 0
WS-20A水分测定仪PX 0
GM-26820°/60°/85°光泽度计(一体式) GM-268PX 0
CM-8829S涂层测厚仪(实用型) CM-8829SPX 0
CM-8829涂层测厚仪(实用型) CM-8829PX 0
CM-8826涂层测厚仪(实用型) CM-8826PX 0
CM-8825涂层测厚仪(实用型) CM-8825PX 0
CM-8856涂层测厚仪(统计型) CM-8856PX 0
CM-1210B涂层测厚仪(统计型) CM-1210BPX 0
HRMS-800HRMS-800高温四探针测试仪PX 0
CM-1210-200F涂层测厚仪(微型涂层) CM-1210-200FPX 0
CM-1210-200N涂层测厚仪(微型涂层) CM-1210-200NPX 0
CM-1210A涂层测厚仪(实用型) CM-1210APX 0
TPS62270德州仪器 TI 半导体 TPS62270PX 0
DBC-226JUNO测试仪 替代品 晶闸管测试PX 0
ENS1040日本CATS 替代 易恩栅电荷测试系统PX 0
DBC-320ITC 替代品 高温反偏试验台PX 0
ENR0620日本JUNO 替代品 易恩热阻测试仪PX 0
ENI1220日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪PX 0
瑞士LEMSYS 替代品 易恩IGBT测试仪PX 0
EN-3020C美国ITC 替代品 易恩IGBT测试仪PX 0
EN-2005C日本岩崎 替代品 易恩图示仪PX 0
EN-2005B美国STI 替代品 易恩测试仪PX 0
0088290-000KLA-Tencor 0088290-000PX 0
05551-001KLA-Tencor 05551-001PX 0
0000941-001KLA-Tencor 0000941-001PX 0
LCM20.2021LCM20.2021_LCM20.2021派克激光颗粒检测仪PX 0
AMPHENOL连接器97系列PX 0
薄膜生长设备
工艺测量和检测设备
集成电路测试与分选设备
光刻及涂胶显影设备
热工艺设备/热处理设备
硅片制备/晶体生长设备
掩模版和中间掩模版制造设备
离子注入设备
干法工艺设备
湿法工艺设备
组装与封装设备
其它半导体行业仪器设备
金属导电涂层垂直比电阻仪
碳化硅半绝缘电阻率测试仪
日本MUSASHI武藏点胶机SIGMA-CM3-CTR-V5
BENDER 绝缘检测仪
晶圆Warp翘曲度量测系统
常备库存:ORC日本UV照射装置HUV-100
常备库存:ORC日本UV照射装置OHD-110M-ST
常备库存:ORC日本UV照射装置HUV-300
安晟两列六门1436升电子防潮箱
AITEC艾泰克UV固化设备 台式输送机
高性能小型点胶机 MUSASHI武藏
上海衡平仪器仪表有限公司
赛默飞色谱及质谱
上海平轩科学仪器有限公司
微信公众号
采购中心
请选择参数!