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GCIB 40离子束
GCIB 40是一种40kV气体团簇离子束，产生团簇离子聚焦束，用于需要对分子离子敏感的分析应用。
GCIB在大程度地减少碎片和从表面去除完整分子方面具有与伦比的能力。在40千伏电压下工作的GCIB40提供了
优异的电离产率，进一步增强了分子信号。
GCIB 40具有可选择的簇大小，从单体到10000多个，斑点大小小于3μm，是分析完整分子离子的强大工具，具
有高空间分辨率。
可在J105 SIM上使用，或作为选定第三方仪器的升级。
Applications
由于离子束和分子信号的丢失，有机样品的SIMS分析通常会导致碎片。使用GCIB，可以减少损伤，以便对材料进行分析和深度剖面。
然而，在近束能量(<40kV)下，GCIB的二次离子产额可能较低。在更高的能量下操作会产生更高的二次离子产率，同
时仍然保持低损伤特性。
下图显示了在分析有机样品时，离子产额如何与束流能量成比例。尽管一次离子剂量保持不变，但来自Irganox 1010薄膜
的二次离子信号从20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。
同时，在所有的光束能量中，碎片几乎保持不变。
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