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Fischer XDLM237菲希尔，两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点，由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率，确保良...

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XDAL600菲希尔X射线测厚仪，由于测量距离可以调节（.大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

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FISCHER XULM240菲希尔，XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金...

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉仪，X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产...

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FISCHERSCOPE X-RAY XULM240，多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50 nm Au或100 μmSn）都通过选择好的高压滤...

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